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丞普諾 X熒光光譜測厚儀進口膜厚儀廠家生產

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產品簡介

丞普諾X熒光光譜測厚儀進口膜厚儀廠家生產詳細介紹應用領域鍍層厚度測試;鍍層含量測試；鍍層成分分析達克羅測試rohs鹵素環(huán)保檢測重金屬有害物質檢測技術指標元素分析范圍從硫(S)到（U）

詳細介紹

丞普諾 X熒光光譜測厚儀進口膜厚儀廠家生產詳細介紹

應用領域

鍍層厚度測試;鍍層含量測試；鍍層成分分析達克羅測試

rohs鹵素環(huán)保檢測重金屬有害物質檢測

技術指標
元素分析范圍從硫(S)到（U）。
一次可同時分析***多24個元素，五層鍍層
分析檢出限可達2ppm，***薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：50KG