詳細(xì)摘要: 蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)將 GEMINI 電子束(e-Beam)鏡筒的三維成像和分析性能與用于納米級材料加工和樣品制備的聚焦離子束結(jié)合在一...
產(chǎn)品型號:Crossbeam系列所在地:更新時間:2026-06-09 在線留言北京中儀訊聯(lián)科技有限公司
暫無信息 |
詳細(xì)摘要: 蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)將 GEMINI 電子束(e-Beam)鏡筒的三維成像和分析性能與用于納米級材料加工和樣品制備的聚焦離子束結(jié)合在一...
產(chǎn)品型號:Crossbeam系列所在地:更新時間:2026-06-09 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網(wǎng) 設(shè)計制作,未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產(chǎn)品
請簡單描述您的需求
號碼可能有誤,請核對!
請選擇省份