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閱讀:218發(fā)布時(shí)間:2021-10-28
XAU-4CS元素分析儀 膜厚分析儀性能優(yōu)勢:
1.微小樣品檢測:*小測量面積0.03mm2(加長測量時(shí)間可小至0.01mm2)
2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm
3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可*測量。
4.*的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。
5.高性能探測器:SDD

XAU-4CS元素分析儀 膜厚分析儀技術(shù)參數(shù)
測量面積:*小0.03mm2
鍍層分析:23層鍍層24種元素
儀器特點(diǎn):RoHS鹵素有害元素檢測
儀器優(yōu)勢:同元素不同層分析
儀器簡介:
XAU-4CS是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度*的光譜分析儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì),是一款一機(jī)多用型光譜儀。
應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
技術(shù)參數(shù):
1. 成分分析范圍:鋁(Al)- 鈾(U)
2. 成分*低檢出限:1ppm
3. 涂鍍層分析范圍:鋰(Li)- 鈾(U)
4. 涂鍍層*低檢出限:0.005μm
5. *小測量直徑□0.1*0.3mm(*小測量面積0.03mm2)
標(biāo)配:*小測量直徑0.3mm(*小測量面積0.07mm2)
6. 對焦距離:0-30mm
7. 樣品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
8. 儀器尺寸:550mm*480mm*470mm
9. 儀器重量:45KG
10. XY軸工作臺移動范圍:50mm*50mm
11. XY軸工作臺*承重:5KG
多元迭代EFP核心算法(號:2017SR567637)
*的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過EFP算法,在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí),還可*分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素,也可*測量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,*層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。
有害元素檢測:RoHS檢測,可滿足鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr VI)等有害元素的成分檢測及含量分析
選擇四大理由:
1.一機(jī)多用,無損檢測(涂鍍層檢測-環(huán)保RoHS-成分分析)
2.*小測量面積0.002mm2
3.可檢測凹槽0-30mm的異形件
4.輕元素,重復(fù)鍍層,同種元素不同層亦可檢測
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