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X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣,對產生的X射線熒光進行解析,用以分析試樣元素和含量的裝置

X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣,對產生的X射線熒光進行解析,用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷,精度高,成本低等特點,已經在很多行業(yè)得到廣泛的應用。尤其在地質礦產行業(yè),其應用更得到客戶的認可。
1、分析精度高。EDX4500臺式系列X熒光光譜分析儀產品測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以,其測量的可靠性更高。EDX4500及其系列產品的分析精度低于0.05%,檢出限可高達2ppm(不同的樣品其指標有所不同)。
2、分析速度高。測定用時與測定度有關,但一般都很短,2分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素,并達到測量精度要求。
3、一次分析幾十種元素,并且同時報告結果。在實際應用中,對主元素與參考元素可以同時分析,這非常適合生產工藝指導的要求,同時對產品失效快速分析提供依據。
4、 EDX4500臺式系列X熒光光譜分析儀是能量色散的設備,其結構簡單,可靠性高,對環(huán)境要求較低,可以使用在生產,并對操作人員的要求也很低。維修方便,維護成本很低。
5、 它采用進口國際上進的SDD探測器,分辨率可達到145eV,并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。
6、 EDX4500臺式系列X熒光光譜分析儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。可分析的元素范圍從Na到U。
7、它們是非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。

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