貴州X熒光光譜儀

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更新時(shí)間：2026-06-24 09:05:29瀏覽次數(shù)：691次

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X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對(duì)產(chǎn)生的X射線熒光進(jìn)行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置

詳細(xì)介紹

X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對(duì)產(chǎn)生的X射線熒光進(jìn)行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點(diǎn)，已經(jīng)在很多行業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。得到廣大客戶的認(rèn)可。

分析元素	Na(11)-U(92)
測(cè)試原理	過X熒光激發(fā)樣品的特征譜分析
X射線產(chǎn)生裝置	采用牛津Rh靶的X光管，設(shè)計(jì)壽命7-10年。管電壓可在5-50KV電壓中，每1KV自動(dòng)控制切換。以便更好的檢測(cè)樣品中的輕金屬和重金屬元素，從而延長(zhǎng)光管壽命。
照射光路	下照式
準(zhǔn)直器	8個(gè)
X射線濾鏡	5種
X射線照射面積	Ф8mm、6mm、4mm、3mm、2mm、1mm、0.5mm、0.1mm
探測(cè)器	Amptek、高分辨率SDD探測(cè)器
探測(cè)器制冷方式	電制冷
分辨率	達(dá)到145±5eV，同時(shí)，超薄窗探測(cè)器，對(duì)輕元素探測(cè)效率*
檢測(cè)器晶體面積	25mm2
數(shù)字多道	新數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000cps，精度更高，在合金檢測(cè)中效果更好
低能光路增強(qiáng)系統(tǒng)	提高對(duì)P、S等微含量元素激發(fā)效果
狀態(tài)顯示	外置90mm×70mm的液晶屏。液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
真空系統(tǒng)	智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
樣品環(huán)境	大氣或抽真空
測(cè)試樣品類型	固體、液體和粉未
儀器大小	樣品腔面積：￠320mm×（高100mm）
	外形尺寸：660mm×510mm×350mm