環(huán)境試驗設(shè)備
GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB10587-89 鹽務(wù)試驗箱技術(shù)條件
GB10588-89 長霉試驗逄技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)務(wù)件
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10592-89 高、低溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB11159-89 低氣壓試驗箱技術(shù)條件
----電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB/T5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備
GB/T5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輔射試驗設(shè)備
GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
