詳細(xì)摘要： 平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：廣州市更新時(shí)間：2025-06-20 在線留言廣州市鴻源計(jì)量?jī)x器有限公司
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廣州市鴻源計(jì)量?jī)x器有限公司
詳細(xì)摘要： 平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度
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詳細(xì)摘要： 用途：用于檢查位置，測(cè)量孔的尺寸，檢查兩孔距，也可作通止規(guī)及測(cè)量孔的深度用，是孔的標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)的檢具,外觀形式有光滑針規(guī)、帶柄針規(guī)、鍍鈦針規(guī)、陶瓷針規(guī)等
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詳細(xì)摘要： 平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量...
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詳細(xì)摘要： 用途：利用光滑環(huán)塞規(guī)的通端和止端控制工件尺寸使之不超出公差帶，光滑環(huán)規(guī)亦可用于準(zhǔn)確幾何形狀與被測(cè)幾何形狀比較，以百分表或測(cè)微儀等指示被測(cè)幾何形狀誤差
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詳細(xì)摘要： CLASSIC系列三坐標(biāo)是我公司研法的新一代高精密型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
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詳細(xì)摘要： FASHION系列三坐標(biāo)是集光、機(jī)、電、算一體化的多功能精密計(jì)量?jī)x器
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詳細(xì)摘要： MAGI系列三坐標(biāo)集合了新天光電多年來(lái)超高精度測(cè)量機(jī)的研發(fā)與生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，是集精密機(jī)械、現(xiàn)代控制技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)為一太的產(chǎn)品
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：廣州市更新時(shí)間：2024-11-29 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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