詳細(xì)摘要: 測(cè)試項(xiàng)目:電子探針微分析測(cè)試對(duì)象:巖石礦物鑲嵌靶、探針片等測(cè)試周期:5-10個(gè)工作日送樣要求:1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑,避免影響數(shù)據(jù)質(zhì)量;2、提前將測(cè)...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:武漢市更新時(shí)間:2026-06-26 在線留言武漢上譜分析科技有限責(zé)任公司
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