昊極科技（廣東）有限公司
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閱讀：4發(fā)布時(shí)間：2026-4-29
電子設(shè)備老化測(cè)試是一種環(huán)境應(yīng)力測(cè)試，通常使用電壓和/或溫度來(lái)加速電子元器件中潛在可靠性缺陷的出現(xiàn)。在電子設(shè)備老化測(cè)試中我們應(yīng)用到的設(shè)備是昊極科技研發(fā)生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱以及HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱，老化測(cè)試的目的是消除產(chǎn)品生命周期早期可能發(fā)生的所有潛在故障。
老化是關(guān)鍵的篩選步驟，通常應(yīng)用于批次中99%的組件。
根據(jù)要激活的故障機(jī)制，為每個(gè)產(chǎn)品系列定義了一組不同的測(cè)試方法和要求。其中許多機(jī)制依賴于產(chǎn)品技術(shù)。例如：HTRB程序（高溫反向偏置）篩選設(shè)備鈍化層內(nèi)部和外部的移動(dòng)或溫度激活雜質(zhì)；或SSOP（穩(wěn)態(tài)工作功率）。
電子設(shè)備老化測(cè)試按照相應(yīng)的測(cè)試方法進(jìn)行，例如：
MIL-STD-883 TM 1015、1016 用于集成電路
MIL-STD-750 TM 1038、1039、1040、1042 用于離散產(chǎn)品
MIL-STD-202 TM 108 用于電子和電氣零件
JEP163
昊極科技研發(fā)生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱以及HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱適用以上測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是 IC 芯片和小型電子產(chǎn)品測(cè)試的理想選擇。設(shè)計(jì)由兩個(gè)獨(dú)立控制的內(nèi)箱構(gòu)成。一個(gè)內(nèi)箱是高溫的，另一個(gè)是低溫的。產(chǎn)品在高溫和低溫箱之間快速轉(zhuǎn)移，從而對(duì)樣品產(chǎn)生溫度沖擊,以幫助發(fā)現(xiàn)電子元件和產(chǎn)品組裝中的產(chǎn)品缺陷。
昊極科技恒溫恒濕試驗(yàn)箱提供多種預(yù)制和定制尺寸，以滿足您的確切測(cè)試要求?？捎眯吞?hào)包括各種溫度斜坡率、濕度水平以及許多標(biāo)準(zhǔn)和可選功能，包括溫度循環(huán)、穩(wěn)態(tài)測(cè)試和快速變化率。
昊極科技HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測(cè)試，對(duì)上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測(cè)試。
在老化測(cè)試期間，電子組件承受或高于額定工作條件的應(yīng)力以及其質(zhì)量等級(jí)指定的溫度。加速因子是通過(guò)使用可靠性模型作為溫度的影響、測(cè)試的持續(xù)時(shí)間和每個(gè)特定故障模式的活化能 (Ea) 確定的。
有關(guān)電子設(shè)備老化測(cè)試解決方案，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系昊極科技的專家，討論您的產(chǎn)品的場(chǎng)景。
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