昊極科技（廣東）有限公司
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閱讀：14發(fā)布時間：2026-4-30
半導體老化是一種檢測半導體器件早期故障的方法。它要求在一組應力條件下對器件進行測試，這些條件通常涉及125°C到150°C的高溫（通常，一些“高可靠性"器件可以在200°C或更高溫度下進行測試），持續(xù)時間單位為小時。昊極科技定制半導體老化測試試驗箱。
在此期間，設備的電源輸入端被施加了一個偏置電壓。如果沒有施加額外的刺激，則稱為靜態(tài)老化。如果使用數(shù)字或模擬輸入刺激設備，則必須監(jiān)控設備以了解設備何時以及是否發(fā)生故障。這稱為監(jiān)控或動態(tài)老化。溫度、時間長度和其他條件通常由一組標準控制，或與設備的最終用戶達成一致。
老化測試試圖從電子產(chǎn)品可靠性的曲線圖的第1階段清除故障，這給出了電子元件的故障率與時間圖。
這條曲線分為三個階段：
第 1 階段：早期階段-這是一個組件出現(xiàn)早期故障的時期。這是由于在分子水平上缺乏對制造過程的控制。在此期間，組件的故障率很高，但該率會隨著時間的推移而降低。 （藍色曲線顯示由于早期故障導致的故障率）
第 2 階段：正常使用壽命-這是故障率幾乎恒定的時期，并且由于隨機發(fā)生的故障。（以綠色曲線顯示）
第 3 階段：磨損壽命終止-以部件老化導致故障率增加為標志的時期；這一時期標志著設備使用壽命的結(jié)束。這些故障是由于設備中的關鍵路徑磨損所致。（紅色曲線顯示由于老化導致的故障率）。
為了執(zhí)行此測試，設備被加載到專門制造的老化板上的插座中。這些插槽可以手動加載，也可以使用自動加載器（例如來自昊極科技定制的自動加載器系列的產(chǎn)品）加載。
可能老化的QFN封裝器件示例，半導體器件測試用開頂老化插座
一旦待測設備 (昊極科技定制半導體老化可靠性試驗箱) 被加載到老化板上的插座中，該板就會被放入專門用于這些板和應用的老化系統(tǒng)中。半導體的老化系統(tǒng)有很多種。昊極科技制造各種系統(tǒng)以適應從4針到1,000多針的設備。對于功耗低于1W到超過100W的設備。特定系統(tǒng)還將具有許多電源，以提供現(xiàn)代設備上使用的各種電壓。這些范圍可以從幾毫伏到超過100V，從幾毫瓦到超過500A。
除了電源之外，昊極科技的半導體測試試驗箱老化系統(tǒng)還能夠提供多個I/O，在老化過程中對DUT進行激勵、測量和監(jiān)控。昊極科技的工程師可以與您一起確定您的設備所需的正確系統(tǒng)、電路板和編程。
昊極科技科定制用于復雜、低、中、高功率設備的可靠性老化測試試驗箱。
一旦電路板被加載到老化系統(tǒng)中，特定的測試程序就會在這些電路板和設備上運行，以對這些電路板和設備進行壓力、測試和評估，以滿足指定的要求。這將包括溫度（測試區(qū)域溫度、DUT封裝溫度或器件表面溫度）、電壓、用于激勵器件的數(shù)字模式以及用于監(jiān)控通過/失敗條件的參數(shù)等因素。
測試完成后，會生成每個設備的測試數(shù)據(jù)記錄，以便在老化后進行排序?qū)Ρ取?/span>
除了傳統(tǒng)的半導體老化試驗箱外，另一個常見的半導體可靠性測試是HAST老化試驗箱。有關HAST的更多信息，請參閱我們的HAST老化試驗箱產(chǎn)品介紹。
昊極科技在解決半導體行業(yè)復雜的老化和可靠性測試方面擁有20多年的經(jīng)驗。
有關老化應用測試以及昊極科技如何幫助您和您的團隊實現(xiàn)目標的更多信息，請聯(lián)系我們，我們將很樂意為您提供更多的老化測試解決方案。
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