電子天平改進(jìn)的具體方法
隨著技術(shù)的進(jìn)步，實(shí)驗(yàn)中結(jié)構(gòu)復(fù)雜、操作不便的電光分析天平逐漸被數(shù)字式、易操作的數(shù)顯電子天平所替代。鑒于原有電光分析天平的老化，用數(shù)顯電子天平替代原有電光分析天平勢(shì)在必行。為適應(yīng)這一趨勢(shì)，對(duì)現(xiàn)有古埃磁天平法測(cè)定物質(zhì)磁化率的裝置進(jìn)行了改進(jìn)。以不破壞數(shù)顯電子天平本身結(jié)構(gòu)為原則。
具體改進(jìn)的方法：以賽多利斯為例，在數(shù)顯電子天平（BSA224S，賽多利斯科學(xué)儀器（北京）有限公司）的稱盤(pán)上放置一略長(zhǎng)于數(shù)顯電子天平寬度的質(zhì)量輕、非圓形（圓形易滾動(dòng)，不穩(wěn)定）的橫梁（如：塑料或有機(jī)玻璃等，稱為上橫梁），在上橫梁的兩端各刻一個(gè)凹槽（便于固定上橫梁和下橫梁）；用另一略長(zhǎng)于天平寬度的質(zhì)量輕的制品（如：塑料或有機(jī)玻璃等）制成放在數(shù)顯電子天平底部的下橫梁（兩端和中間位置各刻一個(gè)凹槽，便于固定上橫梁和樣品管）；用兩根長(zhǎng)度基本相同、兩端分別做成圓環(huán)的細(xì)銅絲或細(xì)鐵絲或尼龍線等，將上橫梁和下橫梁固定（確保下橫梁懸于數(shù)顯電子天平底部），下橫梁中間凹槽用細(xì)線垂下，通過(guò)勵(lì)磁柜上方的圓孔將樣品管下端置于磁場(chǎng)的中心。
實(shí)驗(yàn)方法除天平的使用方法外，所有其他操作與傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)步驟*相同。數(shù)顯電子天平的使用方法是：在未加樣品管時(shí)先[去皮]清零（即去皮鍵），然后按實(shí)驗(yàn)步驟，將樣品管吊在細(xì)繩下方，分別測(cè)量樣品管無(wú)磁場(chǎng)（m）和有磁場(chǎng)時(shí)樣品的質(zhì)量（m），再測(cè)量樣品管裝樣后無(wú)磁場(chǎng)（m）和有磁場(chǎng)時(shí)樣品的質(zhì)量（m）。
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