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閱讀：292發(fā)布時(shí)間：2022-4-12
X射線(xiàn)熒光光譜法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過(guò)程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。
X射線(xiàn)熒光分析儀從根本上來(lái)說(shuō)是一種相對(duì)測(cè)量?jī)x器，因此在使用過(guò)程中，需要定期對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
為保證有害元素含量的控制效果，X射線(xiàn)熒光分析儀的測(cè)量數(shù)據(jù)應(yīng)與其他的測(cè)量手段結(jié)合起來(lái)使用；X射線(xiàn)熒光分析儀更適合生產(chǎn)過(guò)程的監(jiān)控，甚至可以說(shuō)：在生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)有害元素含量的監(jiān)控，X射線(xiàn)熒光分析方法是目前可行的分析手段；而有害元素含量的Z終裁定，則不應(yīng)該僅僅依靠單一的測(cè)量手段。
熒光分析X射線(xiàn)管X射線(xiàn)熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類(lèi)和含量的一種方法，是利用原級(jí)X射線(xiàn)光子或其它微觀粒子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生次級(jí)的特征X射線(xiàn)（X光熒光）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。
被測(cè)量樣品的處理與測(cè)量精度的關(guān)系：
從X射線(xiàn)熒光分析理論上說(shuō)，對(duì)被測(cè)量樣品進(jìn)行需要的處理是須的；一般來(lái)說(shuō)，樣品處理的越好，則測(cè)量精度就會(huì)越高，測(cè)量結(jié)果越可靠。在實(shí)際使用過(guò)程中，我們應(yīng)該盡量對(duì)被測(cè)量樣品進(jìn)行需要的物理處理。
在測(cè)量不規(guī)則的樣品時(shí)，雖然從X射線(xiàn)熒光分析方法上可以對(duì)測(cè)量進(jìn)行技術(shù)上的校正，從而滿(mǎn)足實(shí)際測(cè)量的需要；但這樣做所付出的代價(jià)是犧牲測(cè)量精度和測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。
X 射線(xiàn)熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作，還須防止樣品的損失和沾污。
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