全儀測(cè)控（深圳）有限公司
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閱讀：462發(fā)布時(shí)間：2023-8-11
阻抗差分探頭（TDR-Probe）產(chǎn)品簡(jiǎn)介
型號(hào)： 40G 型號(hào)編碼：DP-SS-035-40F
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
“全儀測(cè)控”開(kāi)發(fā)的TDR/TDT 測(cè)試探頭采用時(shí)域反射技術(shù)的原理，能在線檢測(cè)PCB傳輸線阻抗值，并能對(duì)高速PCB信號(hào)線阻抗變化進(jìn)行高精度在線批量測(cè)試。
這是一款符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的手持式探頭，可以將 TDR/TDT 模塊（例如 54754A）連接到缺少通用同軸高頻連接器的印刷電路板（PCB）和器件。探頭有內(nèi)置的旋輪，通過(guò)旋輪可以調(diào)節(jié)差分探針之間的間距，使之能夠良好地接觸焊盤(pán)或測(cè)試接入點(diǎn)。這些測(cè)試接入點(diǎn)的間距可以從極微小的（0.5 mm）到典型 IC 引腳間距（2.54 mm）不等。
適用場(chǎng)景：
可適用于PCB、PFC線路板、高頻電纜及高頻線材等企業(yè)
• 設(shè)計(jì)研發(fā)
• 驗(yàn)證解析
• 品質(zhì)檢驗(yàn)
• 生產(chǎn)測(cè)試
射頻工程師通過(guò)TDR/TDT 測(cè)試探頭組成的測(cè)試系統(tǒng)，可有效分析被測(cè)件引起反射、對(duì)設(shè)計(jì)的信號(hào)完整性（SI）產(chǎn)生不利影響的位置。PCB/FPC的品質(zhì)部門(mén)/測(cè)試部門(mén)也可以通過(guò)該測(cè)試系統(tǒng)確定短路、開(kāi)路或其他缺陷的位置，從而控制每批產(chǎn)品的工藝一致性，由此提升工藝品質(zhì)。
使用方式：
TDR-Probe可與以下器件結(jié)合使用：
1、 是德/安捷倫 KEYSIGHT 86100C Infiniium DCA-J寬帶示波器；
2、 Agilent 86100C-202 增強(qiáng)型阻抗和 S 參數(shù)軟件；
3、 Agilent 54754A 差分和單端 TDR-TDT 模塊。
TDR-Prob給被測(cè)件（DUT）施加小電子步進(jìn)信號(hào)，并接收其響應(yīng)。響應(yīng)將在時(shí)域中進(jìn)行處理和顯示，或作為 S 參數(shù)（SDD11、SDD22、SDD21 或 SDD22）進(jìn)行處理和顯示。時(shí)域測(cè)量可以顯示反射的電壓或觀察到的阻抗隨時(shí)間或距離的變化。S 參數(shù)測(cè)量包括幅度、相位和群延遲。
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