系統(tǒng)概述QuanYi PCB TDR阻抗測(cè)試系統(tǒng)的核心為“QY射頻微波高頻測(cè)試系統(tǒng)”,當(dāng)應(yīng)用于PCB TDR阻抗測(cè)試時(shí),本系統(tǒng)面向線路板行業(yè)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)化,針對(duì)性優(yōu)化了自動(dòng)化測(cè)試/分析軟件,可實(shí)現(xiàn)線路板特性阻抗快速在線測(cè)試,是一種面向工業(yè)流水化生產(chǎn)線的智能測(cè)試系統(tǒng)。
基于TDR技術(shù)的阻抗測(cè)量系統(tǒng)框圖:
系統(tǒng)應(yīng)用簡(jiǎn)介:
1、采用成熟的軟硬件平臺(tái),實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、精確、高速的測(cè)試。
2、一次連接,即可完成所有的頻域、時(shí)域及眼圖性能指標(biāo)測(cè)試,方便、快捷。
3、一套系統(tǒng)支持各種類型的PCB TDR阻抗測(cè)試及其它測(cè)試類型,保護(hù)客戶投資。
4、配置靈活:系統(tǒng)可測(cè)試單個(gè)組件,或根據(jù)需求同時(shí)測(cè)試多個(gè)組件。
5、*的校準(zhǔn)方案,實(shí)現(xiàn)精確測(cè)試。
6、根據(jù)客戶需求,可以選擇:全自動(dòng)機(jī)型、半自動(dòng)機(jī)型、手動(dòng)測(cè)試;
測(cè)試能力:
該系統(tǒng)基于時(shí)域反射法及取樣示波器原理設(shè)計(jì),遵循IPC、Intel等國(guó)際規(guī)范要求,能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試被測(cè)件的特性阻抗,并提供測(cè)試圖形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、SPC分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告及打印等功能。適用于剛性/撓性PCB、FFC、高速背板、高頻電纜、高頻線材、覆銅板的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位;此系統(tǒng)的擴(kuò)展功能還能夠測(cè)量損耗、衰減、介電常數(shù)、傳輸延時(shí)、差分延時(shí)等高頻參數(shù),為高頻互連器件高頻參數(shù)測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。
測(cè)試對(duì)象: 可支持各種類型的PCB測(cè)試需求(僅需更改PCB測(cè)試治具)
系統(tǒng)支持:可支持主流的網(wǎng)分儀器(也根據(jù)客戶要求,定制支持其他型號(hào)的網(wǎng)絡(luò)分析儀)


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