詳細(xì)摘要： 搭載直線排列了多個(gè)振子的陣列探頭以電子方式移動(dòng)焦點(diǎn)，能高速獲得半導(dǎo)體、電子零部件、IGBT等電源模塊內(nèi)部影像的裝置
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海更新時(shí)間：2022-08-16 在線留言上海西努光學(xué)科技有限公司
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上海西努光學(xué)科技有限公司
詳細(xì)摘要： 搭載直線排列了多個(gè)振子的陣列探頭以電子方式移動(dòng)焦點(diǎn)，能高速獲得半導(dǎo)體、電子零部件、IGBT等電源模塊內(nèi)部影像的裝置
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詳細(xì)摘要： 超聲波影像裝置FS LINE/FS LINE Hybrid
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詳細(xì)摘要： WAFERLINE是SOI、貼合晶圓等的晶圓檢查專用機(jī)根據(jù)您的要求，機(jī)器人自動(dòng)搬運(yùn)、自動(dòng)測(cè)定、自動(dòng)判定，可全自動(dòng)工作
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詳細(xì)摘要： 可在短時(shí)間內(nèi)提高產(chǎn)線產(chǎn)量除了標(biāo)準(zhǔn)型之外，還有可同時(shí)測(cè)量大型樣品和多個(gè)樣品的長(zhǎng)行程寬體產(chǎn)品
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詳細(xì)摘要： 使用超聲波非破壞獲得半導(dǎo)體封裝、電子零部件、陶瓷、金屬樹(shù)脂零部件等的內(nèi)部孔隙、裂紋、剝離等缺陷影像的裝置
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詳細(xì)摘要： 在高分辨率、受好評(píng)的FineSATⅢ的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步提高了分辨率為提高分辨率，提高了以往使用的超聲波頻率
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詳細(xì)摘要： 測(cè)定時(shí)間*多縮短25%*2通過(guò)超聲波高精度、高速檢查半導(dǎo)體、電子零部件提供利用超聲波的反射、穿透特性非破壞檢測(cè)半導(dǎo)體、電子零部件內(nèi)部的細(xì)微結(jié)構(gòu)、缺陷并將其轉(zhuǎn)換為...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海更新時(shí)間：2022-08-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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