詳細(xì)摘要： 高真空原子力顯微鏡Park NX-Hivac
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詳細(xì)摘要： 針對(duì)失效分析和大樣本研究的原子力顯微鏡作為一款缺陷形貌分析的精密測(cè)量儀器，其主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè)
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詳細(xì)摘要： 研究納米技術(shù)的理想選擇ParkNX10為您帶來*高納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有
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詳細(xì)摘要： 專為超大納米平板顯示器測(cè)量而設(shè)計(jì)的自動(dòng)化原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)隨著對(duì)大型平板顯示器原子力顯微鏡計(jì)量需求的增加
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詳細(xì)摘要： 具有自動(dòng)缺陷檢測(cè)的原子力顯微鏡全自動(dòng)AFM解決了缺陷成像和分析問題
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詳細(xì)摘要： 研究型原子力顯微鏡ParkXE7配有ParkSystems的所有技術(shù)，而且價(jià)格十分親民
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詳細(xì)摘要： 集多功能于一體的原子力顯微鏡ParkXE15原子力顯微鏡具有眾多的功能，是處理多種樣品的共享實(shí)驗(yàn)室、進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn)的研究院以及晶片故障分析工程師的理想選擇
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詳細(xì)摘要： 多功能原子力顯微鏡平臺(tái)，滿足納米級(jí)測(cè)量的需求·原子力顯微鏡（AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電，磁，熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力
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詳細(xì)摘要： 可用于300mm晶片圓測(cè)量和分析的自動(dòng)化納米測(cè)量工具ParkNX20300mm是業(yè)界靠前大樣品原子力顯微鏡，支持300mm×300mm全程機(jī)動(dòng)化
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詳細(xì)摘要： 搭載直線排列了多個(gè)振子的陣列探頭以電子方式移動(dòng)焦點(diǎn)，能高速獲得半導(dǎo)體、電子零部件、IGBT等電源模塊內(nèi)部影像的裝置
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詳細(xì)摘要： 超聲波影像裝置FS LINE/FS LINE Hybrid
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詳細(xì)摘要： WAFERLINE是SOI、貼合晶圓等的晶圓檢查專用機(jī)根據(jù)您的要求，機(jī)器人自動(dòng)搬運(yùn)、自動(dòng)測(cè)定、自動(dòng)判定，可全自動(dòng)工作
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詳細(xì)摘要： 可在短時(shí)間內(nèi)提高產(chǎn)線產(chǎn)量除了標(biāo)準(zhǔn)型之外，還有可同時(shí)測(cè)量大型樣品和多個(gè)樣品的長行程寬體產(chǎn)品
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詳細(xì)摘要： 使用超聲波非破壞獲得半導(dǎo)體封裝、電子零部件、陶瓷、金屬樹脂零部件等的內(nèi)部孔隙、裂紋、剝離等缺陷影像的裝置
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詳細(xì)摘要： 在高分辨率、受好評(píng)的FineSATⅢ的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步提高了分辨率為提高分辨率，提高了以往使用的超聲波頻率
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詳細(xì)摘要： 測(cè)定時(shí)間*多縮短25%*2通過超聲波高精度、高速檢查半導(dǎo)體、電子零部件提供利用超聲波的反射、穿透特性非破壞檢測(cè)半導(dǎo)體、電子零部件內(nèi)部的細(xì)微結(jié)構(gòu)、缺陷并將其轉(zhuǎn)換為...
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詳細(xì)摘要： 適合于搭載在其他設(shè)備上的小型化、輕量化的系統(tǒng)顯微鏡BXFM是可進(jìn)行明視野、暗視野、微分干涉、簡易偏光、熒光觀察的小型系統(tǒng)顯微鏡
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詳細(xì)摘要： 近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W
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詳細(xì)摘要： 小型設(shè)計(jì)和的光學(xué)性能并存SZ51和SZ61顯微鏡配有內(nèi)置防靜電保護(hù)裝置，可生成具有優(yōu)異景深、清晰、細(xì)致、顏**真的圖像
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詳細(xì)摘要： 簡化您的檢測(cè)工作流奧林巴斯Stream軟件能夠以智能分步工作流程采集清晰銳利的圖像，以便依據(jù)*新標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行定量測(cè)量并創(chuàng)建專業(yè)水平報(bào)告
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