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閱讀:3發(fā)布時(shí)間:2026-5-30
? 光耦合器測(cè)試
? 提供電驅(qū)動(dòng)隔離控制IC、光耦合器、隔離電源變壓器、IGBT模塊或基板材料等之異常局部放電測(cè)試
? 以新技術(shù)的開(kāi)短路偵測(cè)功能(OSC),于成品測(cè)試時(shí)確保測(cè)試接觸正確。
? 支持的電氣安規(guī)測(cè)試掃描儀
相較于一般電氣產(chǎn)品測(cè)試,電動(dòng)車(chē)相關(guān)之電氣安規(guī)測(cè)試需要更完整的測(cè)量項(xiàng)目及多點(diǎn)測(cè)量,Chroma 8900電氣安規(guī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可整合多項(xiàng)測(cè)試及多點(diǎn)測(cè)量功能,于單次接線內(nèi)完成所有項(xiàng)目測(cè)試。
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主營(yíng)產(chǎn)品:信號(hào)分析儀
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