上海納騰儀器有限公司
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產(chǎn)品型號LiteScope
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間:2026-05-06 07:52:02瀏覽次數(shù):50次
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原位AFM in SEM
LiteScope™是一種獨特的掃描探針顯微鏡(SPM),便于集成到各種掃描電子顯微鏡(SEM)中?;パaSPM和SEM技術的結(jié)合(CPEM)可以進行復雜的樣品分析,包括表面形貌、機械性能、電性能、化學成分、磁性等的表征。 還能與其他掃描電鏡附件相結(jié)合,如聚焦離子束(FIB)或氣體注入系統(tǒng)(GIS )用于納米/微結(jié)構的制備和表面改性可以對裝配結(jié)構的快速和簡單的3D檢查。 同時,SPM和SEM測量能夠在同一地點、同一時間、同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)進行。
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