采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn),您可以大大縮短產(chǎn)品停留時(shí)間,使實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間極小化。 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對(duì)水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實(shí)驗(yàn)室監(jiān)測(cè)而設(shè)計(jì)的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應(yīng)用和生產(chǎn)線的測(cè)量。 有了這種分析儀,可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品,縮短了清理時(shí)間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊,該系統(tǒng)還能......
詳細(xì)介紹
儀器特性及優(yōu)勢(shì)
•XDS NIR 技術(shù)確保使用簡(jiǎn)單和定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移
•結(jié)實(shí)耐用的倉(cāng)庫(kù)或工廠用分析儀
•無需樣品制備,無需試劑,無任何廢棄物
•面向集中數(shù)據(jù)庫(kù)管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
•熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換,不會(huì)影響性能
儀器簡(jiǎn)介
采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn),您可以大大縮短產(chǎn)品停留時(shí)間,使實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間極小化。
XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對(duì)水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實(shí)驗(yàn)室監(jiān)測(cè)而設(shè)計(jì)的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應(yīng)用和生產(chǎn)線的測(cè)量。