詳細(xì)摘要： 日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量
產(chǎn)品型號：TXRF-V310所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言深圳華普通用科技有限公司
會員1.png)
深圳華普通用科技有限公司
詳細(xì)摘要： 日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量
產(chǎn)品型號：TXRF-V310所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計(jì)量測量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言
詳細(xì)摘要： Rigaku 獨(dú)特的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品型號：ZSX Primus 400所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析
產(chǎn)品型號：WDA-3650所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 40 多年來，日本理學(xué)Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具
產(chǎn)品型號：Simultix 15所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計(jì)量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測量
產(chǎn)品型號：SmartLab所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 理學(xué)臺式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。
產(chǎn)品型號：MiniFlex 600所在地：深圳市更新時間：2026-07-22 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
