上海百賀儀器科技有限公司
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產(chǎn)品型號EM TIC 3X
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間:2026-07-20 14:58:16瀏覽次數(shù):77次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)德國徠卡離子研磨機(jī) EM TIC 3X用于制備橫切面和拋光表面,用于掃描電子顯微鏡(SEM)、微觀結(jié)構(gòu)分析(EDS、WDS、Auger、EBSD)和AFM科研工作。
Leica EM TIC 3X 通過離子槍激發(fā)獲得的離子束,以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品,可獲得高質(zhì)量無應(yīng)力“切割”截面,便于SEM觀察。該處理方法適用于多層膜材料、軟硬復(fù)合材料等高難度制備樣品,并且操作簡單,可有效避免涂抹效應(yīng),不需要大量摸索條件即可獲得理想的截面,使樣品暴露內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)信息。
主要技術(shù)參數(shù):
· 可容納樣品尺寸50×50×10mm,可獲得有效切割截面面積>4mm×1mm
· 三把離子槍,離子束能量1keV-10keV,切割速率150μm/h (Si@10kV, 50μm切割高度)
· 離子束處理過程中樣品位置固定,無需偏轉(zhuǎn)運動,無投影效應(yīng),熱傳導(dǎo)性好
· 可進(jìn)行離子束切割或刻蝕,可選擇任意離子槍
· 真空泵解耦合設(shè)計,無震動傳導(dǎo)
· 觸摸屏操作面板,直觀、簡易操作,可編程可軟件升級
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