上海百賀儀器科技有限公司
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產(chǎn)品型號special products
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間:2026-07-21 14:14:28瀏覽次數(shù):51次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)TESCAN掃描電鏡special products主要特點:內(nèi)置 AFM/SPM,RISE Microscopy,TOF-SIMS & FERA3,EBIC - 電子束感生電流探頭,MIRA3 AMU 定制樣品室,電子束寫入模塊包(EBL),TOP-SIMS
可充分利用SEM/ FIB-SEM的快速成像并同時獲得SPM的信息!
一臺掃描電鏡和拉曼光譜聯(lián)用系統(tǒng)
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)已經(jīng)可以安裝在TESCAN 的LYRA3系列 (鎵離子源FIB-SEM)和的FERA3(Xe等離子源FIB-SEM)。
TESCAN 在電子束感應電流/電阻(EBIC)的測量和面掃中加了一種新的方式。內(nèi)置的EBIC探頭,可以快速便捷的實現(xiàn)所有軟件允許的應用功能。而且TESCAN 使用了納米探針作為新的EBIC探頭的連接方式。創(chuàng)新的方式使得3維EBIC分析成為了現(xiàn)實。
TESCAN公司提供可定制的超大等級的樣品室。
電子束寫入模塊(EBL) 是一款技術(shù)已經(jīng)成熟的配件,它可以在納米級別上對指定的結(jié)構(gòu)進行調(diào)整或修改。
這款產(chǎn)品集成了TESCAN公司的聚焦離子束掃描電鏡和Tofwerk公司提供的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀的所有特征。
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