河南宏博測(cè)控技術(shù)有限公司
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閱讀：4發(fā)布時(shí)間：2026-6-4
運(yùn)行中的瓷絕緣子工頻擊穿電壓低于干閃電壓時(shí)，該絕緣子即為劣化絕緣子，絕緣已經(jīng)被擊穿的絕緣子，稱為零值絕緣子。當(dāng)絕緣子串內(nèi)有零值絕緣子時(shí)，其污閃概率以及在過(guò)電壓作用下的閃絡(luò)概率都很高，甚至正常運(yùn)行電壓下也會(huì)發(fā)生閃絡(luò)，短路電流將會(huì)通過(guò)零值絕緣子的內(nèi)部間隙，大電流的熱效應(yīng)可能造成瓷件與頭部斷裂開(kāi)、鑄鐵帽炸裂、鋼腳脫落、瓷件頭部燒成玻璃體等，從而出現(xiàn)絕緣子掉串和導(dǎo)線掉線等一系列事故。目前國(guó)內(nèi)檢測(cè)零值絕緣子的主要方法有電壓分布法、泄露電流測(cè)量法、紅外熱像法、絕緣電阻測(cè)量法等。
分布電壓測(cè)量法：當(dāng)絕緣子串中有零值絕緣子，將明顯影響絕緣子串的電壓分布，根據(jù)這一原理，宏博測(cè)控研發(fā)生產(chǎn)的HB-VD30絕緣子分布電壓測(cè)試儀可以高效帶電檢測(cè)運(yùn)行中的零值絕緣子。
紅外熱像法：根據(jù)劣化絕緣子的熱像特征與正常絕緣子相比的熱像色差，檢測(cè)時(shí)如發(fā)現(xiàn)絕緣子串中溫度分布不連續(xù)且有亮色調(diào)的熱像，既可判定其為低值、零值絕緣子。
絕緣電阻測(cè)量法：根據(jù)劣化絕緣子的電阻值降低這一缺陷，宏博測(cè)控研發(fā)生產(chǎn)的HB-RT20絕緣子電阻測(cè)試儀，可帶電定量測(cè)量出每一片絕緣子的電阻值，同時(shí)能準(zhǔn)確區(qū)分已經(jīng)漏電但尚未擊穿處于臨界損壞的絕緣子，并將檢測(cè)結(jié)果以數(shù)據(jù)形式實(shí)時(shí)記錄存儲(chǔ)顯示，對(duì)低值、零值絕緣子自動(dòng)報(bào)警提示。
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