納米粒度儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑分布的物理測試儀器。
納米粒度儀的選購要點：
技術原理選擇：
動態(tài)光散射(DLS)：適用于稀溶液，快速、非侵入式檢測，但對高濃度樣品敏感。
靜態(tài)光散射(SLS)：適合高濃度或大顆粒(>1μm)體系，需多角度檢測且數(shù)據(jù)復雜。
納米顆粒跟蹤分析(NTA)：顯微成像技術，直接觀測顆粒軌跡，適用于復雜樣品，但耗時較長。
核心性能指標：
量程：基礎型儀器多為1nm至10μm，部分型號可擴展至100μm。
分辨率：優(yōu)質儀器可區(qū)分≤10%的粒徑差異。
靈敏度：APD陣列優(yōu)于單點探測器。
溫度控制：精度±0.1℃直接影響布朗運動速率，進而影響粒徑計算。
樣品適應性：
液體樣品：需預過濾去除雜質，黏稠樣品需稀釋。
粉末樣品：需超聲分散并添加表面活性劑防止團聚。
特殊樣品：生物樣本需原位檢測，避免離心損傷；磁性顆粒需搭配磁力穩(wěn)定裝置。
檢測功能擴展：
Zeta電位測量：適用于穩(wěn)定性評估。
分子量計算：SLS模塊可聯(lián)用DLS，通過Debye圖法計算高分子或膠束的分子量。
自動化進樣：自動進樣器提升批量檢測效率，適合質量控制場景。
操作與維護：
軟件功能：需支持自定義報告模板、圖形化操作界面及一鍵式測量功能。
校準周期：建議每半年用標準顆粒校驗，避免環(huán)境振動導致光路偏移。
