Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。
常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位方法有幾種？
1)電泳光散射法
市面上常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大，這種方法也被廣大客戶(hù)接受，執(zhí)行ISO-13099-2標(biāo)準(zhǔn)。
此方法的弊端有：
* 樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試；
* 不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大；
* 測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差，一般在±10mV以?xún)?nèi)；
2)超聲電聲法(執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)ISO-13099-1)
電聲法是采用聲波信號(hào)，因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng)，可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不一樣，因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。
此方法優(yōu)勢(shì)有：
* 樣品無(wú)需稀釋?zhuān)哼M(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值，更加準(zhǔn)確表征樣品本身狀態(tài)。
* 測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0.3mV以?xún)?nèi)。
* 可以測(cè)試微觀(guān)參數(shù)，如德拜長(zhǎng)度，杜坎數(shù)，雙電層的面電荷密度等。
3)流動(dòng)電位法
以上兩種方法主要是測(cè)試液體的zeta電位，有很多客戶(hù)需要測(cè)試固體表面的zeta電位，中空纖維內(nèi)部的zeta電位，膜表面的zeta電位等如下圖各式樣品，此時(shí)即需要流動(dòng)法來(lái)進(jìn)行測(cè)試。即在樣品池中加入樣品，在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池，緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極，測(cè)試得到電壓值。
目前市面上只有兩家企業(yè)有此項(xiàng)技術(shù)，法國(guó)CAD和安東帕。各家都有其*的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。
4)微電泳法
微電泳法測(cè)試zeta電位的設(shè)備，前端兩側(cè)為四個(gè)電極，進(jìn)行正向和反向加電場(chǎng)，最上方為CCD相機(jī)，對(duì)運(yùn)動(dòng)的帶電粒子做視頻跟蹤，得到每一個(gè)顆粒的遷移率，計(jì)算得到每個(gè)顆粒的zeta電位，從而得到zeta電位的分布并做統(tǒng)計(jì)。
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