納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領(lǐng)域研究機制
可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
可測定固體zeta電位
寬粒徑范圍(0.6nm~10μm)，寬濃度范圍(粒徑測試：0.00001%~40%，zeta電位測試：0.001%~40%)
可測量稀釋或濃縮的懸浮液
用戶友好的軟件
多種樣品池選擇
可選擇一次性樣品池
結(jié)合線性相關(guān)器和對數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對各種樣品進行表征
可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值
納米粒度和Zeta電位分析儀使用領(lǐng)域研究機制：
半導體
研究半導體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
醫(yī)藥和食品行業(yè)
乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。
陶瓷和顏料工業(yè)
表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、等）和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
聚合物和化工領(lǐng)域
乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。
