隨著粉體技術(shù)的發(fā)展，對(duì)粒度分析儀的性能要求在逐步的提高，特別是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達(dá)到幾百甚至幾十個(gè)納米，測量上限要求達(dá)到一千甚至幾千微米。
顆粒越細(xì)，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內(nèi)都有分布。為了拓展儀器的測量下限。需要有非常規(guī)的光學(xué)設(shè)計(jì)。顆粒越小，分布在360度空間范圍的散射光光強(qiáng)差越小，當(dāng)顆粒小到一定極限，光強(qiáng)差將小得幾乎難以被分辨出來。這時(shí)就到了激光粒度儀的測量下限了。光學(xué)設(shè)計(jì)上的障礙和散射光本身的特性決定了常規(guī)激光粒度儀的測量下限一般在0.02微米左右。當(dāng)顆粒較大時(shí)，同樣也會(huì)遇到技術(shù)困難。大顆粒的散射角度很小，不容易分辨和測量。要想有效分辨大顆粒的光強(qiáng)分布?？梢院唵蔚睦L聚焦鏡頭的焦距(例如500甚至1000毫米以上)，但是焦距大將導(dǎo)致激光粒度儀的體積大幅增加，且非常不便于小顆粒的大角度散射光探測。同時(shí)對(duì)鏡頭的加工精度要求也會(huì)更高。這個(gè)技術(shù)難點(diǎn)使得常規(guī)設(shè)計(jì)的激光粒度儀的真實(shí)測量上限很難超過1200微米。
粒度分析儀是指通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器。激光粒度儀作為一種新型的粒度測試儀器，已經(jīng)在粉體加工、應(yīng)用與研究領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
粒度分析儀采用散射原理和匯聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法，保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。獨(dú)特的濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，保證顆粒保證測試過程中無顆粒沉積現(xiàn)象，測試排水后無廢液積存現(xiàn)象，保證了第二次測試精度，使測試結(jié)果更真實(shí)可靠。
主要特點(diǎn)：
1）直接迅速的粒度測量；
2）動(dòng)態(tài)粒形分析功能；
3）免標(biāo)定；
4）遙控操作；
5）警報(bào)信號(hào)；
6）不受振動(dòng)影響；
7）防塵；
8）高強(qiáng)鑄件。
適用范圍：
儀器適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)，尤其對(duì)于在液體中會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)、形狀變化及損失的如中草藥、磁性材料等。
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