鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司
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閱讀：15發(fā)布時(shí)間：2026-6-17
綜述：
納米結(jié)構(gòu)通常是指尺寸在 100nm 以下的微小結(jié)構(gòu)。以納米尺度的物質(zhì)單元為基礎(chǔ)，按一定規(guī)律構(gòu)筑或組裝一種新的體系。它包括一維的、二維的、三維的體系，這些物質(zhì)單元包括納米微粒、穩(wěn)定的團(tuán)簇或人造超原子、納米管、納米棒、納米絲以及納米尺寸的孔洞。結(jié)構(gòu)表征廣泛使用掃描電鏡。
儀器介紹：
EM科特臺(tái)式掃描電鏡擁有高分辨率，操作簡(jiǎn)單快捷方便，確保用戶能在極短時(shí)間內(nèi)快速上機(jī)操作。
實(shí)驗(yàn)步驟：
將具有納米結(jié)構(gòu)的硅片用雙面導(dǎo)電膠帶粘在鋁制樣品托上，直接放入EM科特臺(tái)式掃描電鏡中觀察形貌。放大倍數(shù)：20000X‐160000X，高信噪比操作，照相速度 10s。
結(jié)果討論：
硅片表面存在納米線狀的結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)形態(tài)清晰，按照某種規(guī)律分布均勻，納米線寬 25nm 左右。
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