常州金壇泰納儀器廠
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閱讀:15發(fā)布時(shí)間:2026-7-2
一般的光電測(cè)塵儀器大多采用從實(shí)用觀點(diǎn)出發(fā)的對(duì)比測(cè)定法[1、3],直接在現(xiàn)場(chǎng)用濾筒取樣法與要標(biāo)定的測(cè)塵儀進(jìn)行逐點(diǎn)對(duì)比測(cè)試,即在某一濃度下采樣一次或多次進(jìn)行稱重,而光電測(cè)塵儀則在固定時(shí)間間隔內(nèi)讀取一個(gè)值,在采樣時(shí)間內(nèi)取多個(gè)讀取的平均值,以此值同濾筒取樣法的結(jié)果比較,這樣標(biāo)定的結(jié)果顯然比較接近實(shí)際情況。但如果建立起一個(gè)專用的實(shí)驗(yàn)室[2],包括標(biāo)準(zhǔn)發(fā)塵裝置、測(cè)塵裝置和典型的煙囪灰塵等,在實(shí)驗(yàn)室中即可方便地開(kāi)展光電測(cè)塵的研究工作,如測(cè)出各種典型灰塵的吸收系數(shù)、對(duì)光電測(cè)塵儀器進(jìn)行標(biāo)定等。為此,我們?cè)O(shè)計(jì)了一套實(shí)驗(yàn)裝置,在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行反復(fù)多次的模擬實(shí)驗(yàn),并到發(fā)電廠現(xiàn)場(chǎng)與濾筒取樣法比較,取得了一些有益的結(jié)果。
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