濟(jì)南辰馳試驗(yàn)儀器有限公司
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閱讀：7發(fā)布時(shí)間：2026-8-9
電子行業(yè)電容聚丙烯薄膜、太陽(yáng)能硅片厚度管控要求嚴(yán)苛，微小厚度偏差會(huì)改變?cè)姎狻⒐鈱W(xué)性能，高精度測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、鋁箔測(cè)厚儀用于兩類材料實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)，CHY-U 薄膜厚度測(cè)量?jī)x依托標(biāo)準(zhǔn)接觸式結(jié)構(gòu)適配超薄、硬質(zhì)片材檢測(cè)。
電容薄膜厚度多集中 3-8μm 區(qū)間，質(zhì)地柔軟易拉伸，CHY-U 測(cè)頭配備緩沖下落結(jié)構(gòu)，接觸薄膜瞬間減速，不會(huì)拉扯、壓縮薄膜造成讀數(shù)失真；太陽(yáng)能硅片屬于硬質(zhì)片材，設(shè)備可調(diào)整測(cè)頭接觸力度，平穩(wěn)貼合硅片表面，捕捉片材各點(diǎn)位厚薄差值，輔助調(diào)整切割、拋光工藝參數(shù)。設(shè)備分辨率 0.1μm，微小厚度變化均可清晰呈現(xiàn)，為新材料研發(fā)、成品分級(jí)提供數(shù)值依據(jù)。
設(shè)備支持手動(dòng)、自動(dòng)雙測(cè)量模式，研發(fā)階段少量試樣選用手動(dòng)單點(diǎn)檢測(cè)，量產(chǎn)大批量硅片、電容薄膜可開(kāi)啟自動(dòng)連續(xù)測(cè)量，測(cè)頭完成單次采集自動(dòng)抬升，操作人員僅平移試樣即可切換點(diǎn)位。機(jī)身自帶存儲(chǔ)模塊，每組試樣多點(diǎn)厚度完整保存，內(nèi)置打印機(jī)輸出檢測(cè)報(bào)表，記錄完整試樣信息；選配自動(dòng)進(jìn)樣裝置后，長(zhǎng)條薄膜試樣可連續(xù)送料檢測(cè)，減少人工重復(fù)操作。
整機(jī)嚴(yán)格遵循 GB/T6672、ISO534 接觸測(cè)量條件，標(biāo)準(zhǔn) 50mm2 圓形測(cè)頭匹配薄膜檢測(cè)規(guī)范，金屬硅片測(cè)量可切換片材工況參數(shù)。日常使用僅需定期用量塊校準(zhǔn)示值，車間、實(shí)驗(yàn)室溫濕度小幅波動(dòng)不會(huì)干擾測(cè)量穩(wěn)定性。電子薄膜、光伏硅片生產(chǎn)企業(yè)、材料研發(fā)實(shí)驗(yàn)室均可使用這款薄膜厚度測(cè)試儀完成厚度均勻度檢測(cè)，依靠統(tǒng)一接觸測(cè)量條件，穩(wěn)定把控電子基材品質(zhì)。
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