上海爾迪儀器科技有限公司
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閱讀：14發(fā)布時間：2026-7-19
1. AFM：即Atomic Force Microscope（原子力顯微鏡）的縮寫。原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結構的分析儀器。
2. SPM：即Scanning Probe Microscope（掃描探針顯微鏡）的縮寫。是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和加工、自動控制技術、數(shù)字信號處理技術、應用光學技術、計算機高速采集和控制及高分辨圖形處理技術等現(xiàn)代科技成果的光、機、電一體化的高科技產(chǎn)品。
3. 范德瓦耳斯力：van der Waals force。分子間作用力，是存在于中性分子或原子之間的一種弱堿性的電性吸引力。其能量計算的經(jīng)驗方程為:U =B/r12- A/r6。
4. 卡西米爾效應：金屬導體或介電材料的存在改變了真空二次量子化后電磁場能量的期望值。這個值與導體和介電材料的形狀及位置相關，因此卡西米爾效應表現(xiàn)就成了與這些屬性相關的力。
5. 接觸模式（Contact Mode）：AFM最直接的成像模式。在整個掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣品表面保持接觸，而相互作用力是排斥力。掃描時，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結構，因此力的大小范圍在10-10～10-6Ｎ。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，則不宜選用接觸模式對樣品表面進行成像。
6. 非接觸模式（non-contact mode）：非接觸模式探測試樣表面時懸臂在距離試樣表面上方5～10nm的距離處振蕩。樣品與針尖之間的相互作用由范德華力控制，通常為10-12Ｎ，樣品不會被破壞，而且針尖也不會被污染，特別適合于研究柔嫩物體的表面。
7. 輕敲模式（Tapping Mode）：輕敲模式介于接觸模式和非接觸模式之間，是一個雜化的概念。懸臂在試樣表面上方以其共振頻率振蕩，針尖僅僅是周期性地短暫地接觸/敲擊樣品表面。這就意味著針尖接觸樣品時所產(chǎn)生的側向力被明顯地減小了，因此當檢測柔嫩的樣品時，AFM的敲擊模式是好的選擇之一。
8. 激光檢測器 ：是利用激光掃描檢測原理而研制的，它主要由光學機械掃描器和掃描光學系統(tǒng)組成的激光掃描發(fā)射器，由接收光學系統(tǒng)和光電轉換電子學系統(tǒng)構成的激光掃描接收器，以單片機為核心的實時控制與數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構成的控制器以及半導體激光電源組成。
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