上海爾迪儀器科技有限公司
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閱讀：17發(fā)布時(shí)間：2026-7-20
光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用，對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來(lái)越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度，從而用于優(yōu)化加工方法，保證最終元器件的性能指標(biāo)，是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問(wèn)題之一。
光學(xué)元件的加工精度包括表面質(zhì)量和面型精度，這些參數(shù)會(huì)影響其對(duì)光信號(hào)的傳播，進(jìn)而影響最終器件的性能。
此外，各種新型光學(xué)元件也需要檢測(cè)其表面輪廓，比如非球面，衍射光學(xué)元件，微透鏡陣列等。除了最終光學(xué)元件的加工精度以外，各種光學(xué)元件加工工藝也需要檢測(cè)中間過(guò)程的三維形貌以保證最終產(chǎn)品的精度，包括注塑、模壓的模具，光學(xué)圖案轉(zhuǎn)印時(shí)的掩膜版，刻蝕過(guò)程的圖案深度、寬度等。
布魯克的三維光學(xué)顯微鏡配備的雙光源技術(shù)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)白光干涉和相移干涉成像，適用于各種不同光學(xué)樣品、模具的三維形貌測(cè)量。在光學(xué)加工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
· 設(shè)備可以用于光學(xué)元件表面質(zhì)量檢測(cè)，可以通過(guò)表面粗糙度、表面斜率分布等判斷光學(xué)元件整體散射率，也可以部的各種缺陷。
· 設(shè)備還可以用于各種光學(xué)元件的面型分析，除了手動(dòng)分析以外，軟件還提供了包括Zernike多項(xiàng)式擬合、非球面分析等功能。
· 由于該設(shè)備能準(zhǔn)確測(cè)量和分析光學(xué)元件，在多種光學(xué)元件中得到廣泛應(yīng)用，包括光柵、菲涅爾透鏡和二元光學(xué)元件等衍射光學(xué)元件，以及微透鏡陣列等。
Bruker三維光學(xué)輪廓儀系列（Bruker GT-X、Bruker ContourX-200、Bruker ContourX-500）以及bruker其他產(chǎn)品在上海爾迪儀器科技有限公司均有銷售。，響應(yīng)迅速!
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