詳細(xì)摘要: PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測(cè)量原理測(cè)量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點(diǎn)高程,測(cè)量精度可以達(dá)到亞毫米級(jí),測(cè)量過程無需接觸土壤表面,解決了測(cè)針法對(duì)...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2026-06-25 在線留言北京渠道科學(xué)儀器有限公司
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詳細(xì)摘要: PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測(cè)量原理測(cè)量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點(diǎn)高程,測(cè)量精度可以達(dá)到亞毫米級(jí),測(cè)量過程無需接觸土壤表面,解決了測(cè)針法對(duì)...
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