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高頻介電常數(shù)測試儀（10KHZ-160MHZ）

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更新時間：2023-06-21 11:24:36瀏覽次數(shù)：124次

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產品簡介

GCSTD-A/B介電常數(shù)及介質損耗測試儀滿足標準：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法一、概述介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷

詳細介紹

GCSTD-A/ B介電常數(shù)及介質損耗測試儀

滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

一、概述

介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

二、技術指標

1. 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

2. 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3. 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

4. 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5. 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

6. DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7. 計算機自動修正技術和測試回路化 —使測試回路殘余電感減至， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

8．　　使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

技術特性

型號	GCSTD-B	GCSTD-A
Q 值測量范圍	2 ～ 1023 ，量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔	Q值測量范圍：2～1023。 Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
固有誤差	≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ） ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）	20kHz～10MHz ≤5％±滿度值的2％； 10MHz～50MHz； ≤6％±滿度值的2％；。
工作誤差	≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ） ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）	20kHz～10MHz ≤7％±滿度值的2％； 10MHz～60MHz； ≤8％±滿度值的2％
電感測量范圍	4.5nH ～ 140mH	14.5nH~8.14H
電容直接測量范圍	1 ～ 200pF	1～460pF
主電容調節(jié)范圍	18 ～ 220pF	30～500pF 150pF以下±1.5pF；
主電容調節(jié)準確度	120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％	150pF以上±1％
信號源頻率覆蓋范圍	100kHz ～ 160MHz	10kHz～50MHz
頻率分段（虛擬）	100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz	10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz
頻率指示誤差	3 × 10 -5 ± 1 個字	3×10-5±1個字