北京恒奧德科技有限公司
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閱讀：19發(fā)布時(shí)間：2026-5-23
| 產(chǎn)品名稱：數(shù)字集成電路測(cè)試儀/數(shù)字IC測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：ICT-33C |
器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。 ◆器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷 其型號(hào)。 ◆器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 ◆器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。 ◆電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。 ◆內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
| 產(chǎn)品特點(diǎn)： |
| ◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。 ◆器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷 其型號(hào)。 ◆器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 ◆器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。 ◆電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。 ◆內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 ◆EPROM、EEPROM器件讀入：ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入 并保存。 ◆EPROM、EEPROM器件寫入：ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM 器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。 ◆ 新增RS232接口，與PC通訊，互送資料。 |
 技術(shù)規(guī)格： |
1、CMOS40系列：103種。 2、CMOSMCI40系列：103種。3、CMOS45系列：60種。 4、CMOSMCI45系列：60種。5、光耦合器系列：133種。 6、TTL74/54系列：714種。8、數(shù)碼管系列： 0.5寸共陽(yáng)[001];共陰[002];0.3寸共陽(yáng)[003];共陰[004];0.7寸共陽(yáng)[005];共陰[006].7、TTL75/55系列：82種。9、常用RAM系列： 6264 62256 60256 628128 24C01 24C02 24C04 24C08 24C16 24C32 27C010 29C256 29C010 24C64 93C46 93C56 93C66 28C256 10、EEPROM系列： 2864 28256 28040 29101 11、EPROM系列： 2764 27128 27256 27512 12、微機(jī)外圍電路系列： Z80CTC（802）13、常用單片機(jī)系列： 89C1051 89CH 87C52 89C51 89C14、其他系列： 1908 339192 293 393 555 556 324 22100 MC1413（2003） MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161） MC14162（40162）MC14163 （40163）TIL308 MC14189（75189) 2902（324）8T26（826) AD506 |
| 產(chǎn)品名稱：數(shù)字集成電路測(cè)試儀/數(shù)字IC測(cè)試儀 貨 號(hào)：26955 產(chǎn)品型號(hào)：ICT-33C |
器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。 ◆器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷 其型號(hào)。 ◆器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 ◆器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。 ◆電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。 ◆內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
| 產(chǎn)品特點(diǎn)： |
| ◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。 ◆器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷 其型號(hào)。 ◆器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 ◆器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。 ◆電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。 ◆內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 ◆EPROM、EEPROM器件讀入：ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入 并保存。 ◆EPROM、EEPROM器件寫入：ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM 器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。 ◆ 新增RS232接口，與PC通訊，互送資料。 |
| 技術(shù)規(guī)格： |
1、CMOS40系列：103種。 2、CMOSMCI40系列：103種。3、CMOS45系列：60種。 4、CMOSMCI45系列：60種。5、光耦合器系列：133種。 6、TTL74/54系列：714種。8、數(shù)碼管系列： 0.5寸共陽(yáng)[001];共陰[002];0.3寸共陽(yáng)[003];共陰[004];0.7寸共陽(yáng)[005];共陰[006].7、TTL75/55系列：82種。9、常用RAM系列： 6264 62256 60256 628128 24C01 24C02 24C04 24C08 24C16 24C32 27C010 29C256 29C010 24C64 93C46 93C56 93C66 28C256 10、EEPROM系列： 2864 28256 28040 29101 11、EPROM系列： 2764 27128 27256 27512 12、微機(jī)外圍電路系列： Z80CTC（802）13、常用單片機(jī)系列： 89C1051 89CH 87C52 89C51 89C14、其他系列： 1908 339192 293 393 555 556 324 22100 MC1413（2003） MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161） MC14162（40162）MC14163 （40163）TIL308 MC14189（75189) 2902（324）8T26（826) AD506 |
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