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ATR衰減全反射探頭

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ATR衰減全反射探頭

詳細(xì)介紹

ATR衰減全反射探頭

Attenuated Total Reflectance Probe ATR探頭是測(cè)量吸光率在4000-5000 AU/cm 的樣品的理想產(chǎn)品。它能夠直接插入樣品中，不需要稀釋樣品就能獲得光譜。典型的應(yīng)用包括純墨水樣品、染色樣品和原油樣品的測(cè)量。另外，如果探頭頂部的接觸樣品的折射率大于ATR探頭的藍(lán)寶石晶體的折射率，或大于1.7，ATR探頭可用作通用探頭。

ATR探頭被設(shè)計(jì)用于工業(yè)過程應(yīng)用，曾經(jīng)在10,000psig的環(huán)境下接受測(cè)試。ATR探頭可以在**315C的溫度下工作。ATR探頭是個(gè)經(jīng)過三次反射的探頭，并且可以穿透被測(cè)量波長(zhǎng)的衰逝波/倏逝波。

應(yīng)用場(chǎng)景

ATR(attenuated total reflection,衰減全反射),
定義：入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密－疏媒質(zhì)的界上全反射時(shí)，光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場(chǎng)（見衰減波）量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元（SP）或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強(qiáng)因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。
利用光學(xué)中的迅衰場(chǎng)與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
應(yīng)用：ATR在實(shí)際應(yīng)用中，作為紅外光譜法的重要實(shí)驗(yàn)方法之一，從一開始便顯示出其的優(yōu)勢(shì)和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號(hào)，而是通過樣品表面的反射信號(hào)獲得樣品表層有機(jī)成份的結(jié)構(gòu)信息。不但簡(jiǎn)化了樣品的制作過程，而且極大地?cái)U(kuò)大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣，或者樣品制備過程十分復(fù)雜、難度大、而效果又不理想的實(shí)驗(yàn)成為可能。因此，被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。

詳細(xì)參數(shù)

型號(hào)	規(guī)格
推薦使用的光纖直徑:	600 μm
外部直徑:	19 mm (0.75")
探頭長(zhǎng)度:	~305 mm
身體材料:	316 不銹鋼(標(biāo)準(zhǔn)); Hastelloy C, Titantium 和 Monel 也可用
晶體材料:	藍(lán)寶石
密封:	標(biāo)準(zhǔn)用Viton，也可選Chemraz, Kalrez
壓強(qiáng)限制:	10,000 psig
光纖接頭:	SMA 905
溫度限制:	300 oC
波長(zhǎng)范圍:	UV-NIR