設備試驗標準目錄:
1.GJB150.1-86 設備環(huán)境試驗方法總則
2.GJB150.2-86 設備環(huán)境試驗方法 低氣壓（高度）試驗
3.GJB150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗
4.GJB150.4-86 設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗
5.GJB150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗
6.GJB150.6-86 設備環(huán)境試驗方法 溫度-高度試驗
7.GJB150.7-86 設備環(huán)境試驗方法 太陽輻射試驗
8.GJB150.8-86 設備環(huán)境試驗方法 淋雨試驗
9.GJB150.9-86 設備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗
10.GJB150.10-86 設備環(huán)境試驗方法 霉菌試驗
11.GJB150.11-86 設備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗
12.GJB150.12-86 設備環(huán)境試驗方法 砂塵試驗
13.GJB150.13-86 設備環(huán)境試驗方法 爆炸性大氣試驗
14.GJB150.14-86 設備環(huán)境試驗方法 浸漬試驗
15.GJB150.15-86 設備環(huán)境試驗方法 加速度試驗
16.GJB150.16-86 設備環(huán)境試驗方法 振動試驗
17.GJB150.17-86 設備環(huán)境試驗方法 噪聲試驗
18.GJB150.18-86 設備環(huán)境試驗方法 沖擊試驗
19.GJB150.19-86 設備環(huán)境試驗方法 溫度-濕度-高度試驗
20.GJB150.20-86 設備環(huán)境試驗方法 飛機炮振試驗
21.GJB1027-90 衛(wèi)星環(huán)境試驗要求
22.GJB1032-90 電子產(chǎn)品環(huán)境應力篩選方法
23.GJB128A-97 半導體與器件試驗方法
24.GJB150.1~17-84 航空電線電纜試驗方法
25.GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法
26.GJB4.1-83 艦船電子設備環(huán)境試驗
27.GJB573A-98 引信環(huán)境與試驗方法
