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更新時(shí)間:2026-09-04 09:57:03瀏覽次數(shù):29次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 儀表網(wǎng)激光原位分析儀: 將激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析技術(shù)(LIBS)和原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)(OPA)*結(jié)合的,為材料成分分析,缺陷分析,涂鍍層等樣品的分析應(yīng)用提供了新的技術(shù)手段及質(zhì)量判據(jù)??捎糜诤娇蘸教?、汽車、高鐵、冶金、科研院所、質(zhì)檢中心等
激光原位分析儀
將激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析技術(shù)(LIBS)和原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)(OPA)*結(jié)合的,為材料成分分析,缺陷分析,涂鍍層等樣品的分析應(yīng)用提供了新的技術(shù)手段及質(zhì)量判據(jù)??捎糜诤娇蘸教?、汽車、高鐵、冶金、科研院所、質(zhì)檢中心等
儀器特點(diǎn):
⊙ 多元素同時(shí)分析。28 個(gè)元素通道,包含 C,P,S 元素,
線性關(guān)系良好。
⊙ 預(yù)剝蝕時(shí)間,積分時(shí)間,門控延遲時(shí)間動態(tài)可調(diào)。
⊙ 分析簡便、快速,無前處理過程,避免樣品被污染。
⊙ 分析不受樣品尺寸,狀態(tài),導(dǎo)電性,難熔與否的影響。
⊙ LIBS 具有高靈敏度與高空間分辨率,非常適合涂層材料、
薄膜材料分析。
⊙ 微小燒蝕光斑可進(jìn)行局部微區(qū)分析,表面微損分析,適合材料
缺陷分析。
⊙ 非接觸測量,響應(yīng)迅速,分析時(shí)間短,可滿足實(shí)時(shí)分析以及在
線分析的要求。
激光原位分析儀
儀器參數(shù):
激光光源
⊙ Continuum SureliteTM III - 10 YAG 激光器
真空光學(xué)系統(tǒng)
⊙ 帕邢—龍格架法,光柵焦距 750 mm
⊙ 高發(fā)光全息光柵,刻線為 2400 條 /mm
⊙ 譜線范圍:170 ~ 800 nm
⊙ 色散率:一級色散率:0.55 nm/mm
二級色散率:0.275 nm/mm
⊙ 分辨率:優(yōu)于 0.01 nm
檢測系統(tǒng)
⊙ 光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)
⊙ 瞬態(tài)信號前端處理電路
⊙ 數(shù)字信號采集識別和解析系統(tǒng)
⊙ 多線程的數(shù)據(jù)采集方式
⊙ 樣品掃描定位系統(tǒng)
⊙ 三維工作臺
⊙ CCD 成像系統(tǒng):聯(lián)合數(shù)控工作臺實(shí)現(xiàn)樣品的定位和觀察
⊙電源要求:220V/20A
⊙外形尺寸:1500 mm×750 mm×1600 mm(寬 × 深 × 高)
⊙重 量:毛重約 700 Kg
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