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高壓漏電流及熱釋電測(cè)量系統(tǒng)

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高壓漏電流及熱釋電測(cè)量系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

詳細(xì)說(shuō)明：

美國(guó)Polyk Technologies公司研發(fā)了高壓漏電流和熱釋電測(cè)量系統(tǒng)，對(duì)于研發(fā)高能量密度和功率介電材料意義重大！

開(kāi)發(fā)背景：
1）在高能量密度和功率電容中，漏電流對(duì)于功率損耗和熱擊穿意義重大；
2）依據(jù)ASTM D257測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，很多商用材料的電阻率在短時(shí)間（60s）低電場(chǎng)(<1V/um)下通常被測(cè)量;相比之下，很多電容運(yùn)行電場(chǎng)往往>100V/um,并且電導(dǎo)率隨電場(chǎng)呈指數(shù)增加；因此這些材料的數(shù)據(jù)與實(shí)際應(yīng)用關(guān)聯(lián)不大；
3）在高電場(chǎng)和高溫下測(cè)量高分子薄膜的漏電流很具有挑戰(zhàn)性：
-電流達(dá)到pA(10e-12A)量級(jí)，因此周圍環(huán)境的干擾必須被屏蔽；
-在長(zhǎng)期高壓下測(cè)試，介電液可能變得導(dǎo)電，因此測(cè)試必須在無(wú)介電液的空氣中進(jìn)行，很多試樣在空氣中有很低的介電擊穿強(qiáng)度，而且長(zhǎng)時(shí)間（>1h）高電場(chǎng)（>100V/um）下測(cè)試就非常困難；
-高分子薄膜通常比較軟，而且很容易被電極損壞，因此非常困難的測(cè)試這種樣品(厚度<10um)在>100V/um電場(chǎng)下;

測(cè)試系統(tǒng)功能及配置：
1）pA測(cè)量單元：Keithley 6517（6514）或者類似的儀表，需配備同軸疲敝電纜；
2）高壓?jiǎn)卧篠RS PS350 或者Trek Voltage 10kV；
3）溫度范圍：-150℃ to >250℃，帶液氮冷去；
4）全屏蔽測(cè)試箱體，絕緣安裝在腔體門(mén)內(nèi)側(cè)，便于裝載樣品；
5）高壓加載通過(guò)彈簧加載的球電極，即保證良好的電接觸，又不會(huì)損壞軟的高分子薄膜樣品；
6）pA電流測(cè)量已經(jīng)被印證，通過(guò)<5um電容薄膜在高場(chǎng)（200V/um）下測(cè)試>20h無(wú)介電擊穿；
7）試樣大?。簎p to 8cm直徑；
8）該系統(tǒng)也可用于熱激發(fā)激化電流測(cè)量或者熱釋電電流；
9）模塊化設(shè)計(jì)，測(cè)試腔室也可以用于介電和高壓測(cè)試系統(tǒng)；

關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn) 儀表

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