詳細(xì)摘要: AC法熱擴(kuò)散率測量系統(tǒng)LaserPIT通過掃描激光加熱埃法測量薄板材料平面方向上的熱擴(kuò)散系數(shù);對(duì)于高導(dǎo)熱材料,還可測量亞微米的薄膜。
產(chǎn)品型號(hào):LaserPIT所在地:上海更新時(shí)間:2026-09-19 在線留言凱戈納斯儀器商貿(mào)(上海)有限公司
詳細(xì)摘要: AC法熱擴(kuò)散率測量系統(tǒng)LaserPIT通過掃描激光加熱埃法測量薄板材料平面方向上的熱擴(kuò)散系數(shù);對(duì)于高導(dǎo)熱材料,還可測量亞微米的薄膜。
產(chǎn)品型號(hào):LaserPIT所在地:上海更新時(shí)間:2026-09-19 在線留言詳細(xì)摘要: 特色:Scan/view 影像/訊號(hào)快速滑動(dòng)切換波長:488/532/633/785顯微拉曼/PL光譜量測10X/50X/100X光學(xué)放大倍率1um取樣面積
產(chǎn)品型號(hào):MRI所在地:上海更新時(shí)間:2026-09-19 在線留言詳細(xì)摘要: 一鍵式手持拉曼鑒識(shí)系統(tǒng)SERSTECH 100 Indicator手持式,體積小,易攜帶,便于操作SERSTECH一鍵式手持型拉曼光譜儀100應(yīng)用領(lǐng)域:食品藥品...
產(chǎn)品型號(hào):SERSTECH 100 INDICATOR所在地:上海更新時(shí)間:2026-09-19 在線留言詳細(xì)摘要: calScreener是一臺(tái)針對(duì)活細(xì)胞的無標(biāo)記實(shí)時(shí)檢測分析量熱系統(tǒng)。 Symcel公司利用其微量熱量檢測分析技術(shù),開發(fā)了這款多通道、高靈敏、無需標(biāo)記,實(shí)時(shí)監(jiān)測細(xì)...
產(chǎn)品型號(hào):CalScreener所在地:上海更新時(shí)間:2026-09-19 在線留言詳細(xì)摘要: 日本SUGA公司自SPS-放電等離子燒結(jié)技術(shù)誕生以來,一直伴隨著SPS技術(shù)在的發(fā)展,1997年開始代工生產(chǎn)SPS設(shè)備,經(jīng)過多年的技術(shù)積累,現(xiàn)推出Sx、Rx系列S...
產(chǎn)品型號(hào):SPS-Rx系列所在地:上海更新時(shí)間:2026-09-19 在線留言詳細(xì)摘要: EPSILON+是一個(gè)用于測量流體材料介電性質(zhì)的微型測量系統(tǒng),且符合DIN51111標(biāo)準(zhǔn)。比如,該設(shè)備可以用來表征發(fā)動(dòng)機(jī)和齒輪油以及潤滑脂的介電性能。研究電動(dòng)汽...
產(chǎn)品型號(hào):EPSILON+所在地:上海更新時(shí)間:2026-09-19 在線留言詳細(xì)摘要: 近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM也習(xí)慣稱為掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM,是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡AFM結(jié)合使...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:更新時(shí)間:2022-10-05 在線留言詳細(xì)摘要: 我們的** NANONICS IMAGING LTD.一直是掃描探針顯微鏡(SPM)領(lǐng)域中將近場光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)和原子力顯微鏡(AFM)技術(shù)上乘結(jié)合的...
產(chǎn)品型號(hào):NSOM所在地:更新時(shí)間:2022-10-04 在線留言詳細(xì)摘要: Nanonics近場掃描光學(xué)顯微鏡(NSOM)是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結(jié)合使用,因此近場掃...
產(chǎn)品型號(hào):(Near Field Scanning Mircoscope)所在地:更新時(shí)間:2022-10-03 在線留言詳細(xì)摘要: 原子層沉積系統(tǒng)SAL1000G是一款包含手套箱小型桌面ALD原子層沉積系統(tǒng),具有良好的均勻性及*的階梯覆蓋性能,使用戶能夠控制每個(gè)原子層的沉積。通過手套箱,可在...
產(chǎn)品型號(hào):SAL1000G所在地:更新時(shí)間:2022-09-24 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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