詳細(xì)摘要： 磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強(qiáng)度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
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詳細(xì)摘要： 磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強(qiáng)度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
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詳細(xì)摘要： D型磁粉靈敏度試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作
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詳細(xì)摘要： M1型磁粉檢測試片試片用于連續(xù)法磁粉探傷時(shí)，驗(yàn)證工件表面磁場強(qiáng)度的大小與方向，驗(yàn)證磁粉探傷的綜合性能。
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詳細(xì)摘要： 型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查...
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