詳細(xì)摘要: 蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)將 GEMINI 電子束(e-Beam)鏡筒的三維成像和分析性能與用于納米級(jí)材料加工和樣品制備的聚焦離子束結(jié)合在一...
產(chǎn)品型號(hào):Crossbeam系列所在地:北京市更新時(shí)間:2026-10-08 在線留言北京中儀訊聯(lián)科技有限公司
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詳細(xì)摘要: 蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)將 GEMINI 電子束(e-Beam)鏡筒的三維成像和分析性能與用于納米級(jí)材料加工和樣品制備的聚焦離子束結(jié)合在一...
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