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6440B 精密元件分析儀

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更新時間：2022-12-08 10:06:47瀏覽次數(shù)：213次

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產(chǎn)品簡介

6440B 精密元件分析儀

詳細(xì)介紹

概觀

6430B和6440B精密元件分析儀可對任何無源元件進(jìn)行全面，準(zhǔn)確的高分辨率測試。特別是對于電容器制造商而言，這些儀器可提供快速自動生產(chǎn)測試和完整設(shè)計表征的功能。用戶包括無源元件設(shè)計人員，制造測試，設(shè)計和測試材料以及評估元件特性的電路設(shè)計人員。

可以自動計算任何組件的諧振頻率以及該頻率下的等效串聯(lián)或并聯(lián)電路。兩種儀器均設(shè)計用于元件的高性能測試，基本精度為0.02％，價格低廉。6430B是覆蓋到500 kHz的入門級儀器，而功能齊全的6440B覆蓋到3 MHz。

為了在的頻率范圍內(nèi)高速評估組件性能，使用多頻模式。在此模式下，操作員決定要測量哪個參數(shù)以及在哪個頻率上測量。6430B和6440B完成剩下的工作，在大型LCD顯示屏上創(chuàng)建一個易于閱讀的表格。每個測試都可以有一個簡單的通過/失敗顯示。

電容器的快速自動多頻生產(chǎn)測試

6430B和6440B可在生產(chǎn)環(huán)境中快速自動測試電容器。用戶可以從任何儀器范圍中選擇測量值，并對每個組件執(zhí)行多達(dá)八個不同的測試。可以為每個測試選擇容差箱。完成所有測試后，儀器選擇整個箱。測量結(jié)果可以通過GPIB或打印機(jī)輸出。測試序列由外部輸入，GPIB或前面板觸發(fā)。一旦測試序列完成，就選擇bin，并在GPIB上提供測量數(shù)據(jù)。該過程以非常高的速度進(jìn)行，允許在大約180ms內(nèi)完成雙頻測試。統(tǒng)計形式的通過/失敗數(shù)據(jù)可供用戶使用，并可在LCD顯示屏上查看，

防止充電電容器

高精度測量儀器可能對帶電電容器敏感，如果連接可能導(dǎo)致昂貴的維修和不可接受的停機(jī)時間。Wayne Kerr Electronics已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了這個問題并開發(fā)了一種解決方案，可以保護(hù)測試設(shè)備免受充電電容的影響。在這種情況下，保護(hù)裝置可以輕松且廉價地更換保險絲，同時測試設(shè)備保持不受傷害并繼續(xù)提供可靠的精確性能。保護(hù)單元將保護(hù)測試設(shè)備免受高達(dá)25焦耳的充電能量。

過載保護(hù)裝置1J1100

主要特點

快速自動電容測試
耗散系數(shù)的高測量精度
測量速度快
0.02％基本測量精度
全面的測量功能，所有測量功能的圖形掃描
將組件表征為3 MHz
大型LCD顯示屏和直觀的用戶界面
的價格

技術(shù)規(guī)格

測量功能	可以測量和顯示以下任何參數(shù)：電感（L），阻抗（Z），直流電阻（Rdc）和電容（C）串聯(lián)或并聯(lián)等效電路C + R，C + D，C + Q，L + R，L + Q 系列等效電路僅X + R，X + D，X + Q 并聯(lián)等效電路僅C + G，B + G，B + D，B + Q 極性形式Z +相角，Y +相角
頻率范圍	6430B - 20 Hz至500 kHz> 1000步（> 1500步，安裝了分析選件） 6440B - 20 Hz至3 MHz> 1800步
驅(qū)動電平（Rdc）	100 mV或1 V，100Ω源電阻
內(nèi)部直流偏置電源	2 V，帶快速充電電容偏置
直流偏置電壓（外部）	可通過后面板連接高達(dá)±60 V的外部電源
測量速度	4種速度可選擇測試頻率≥100Hz，每秒最多20次測量
測量范圍	R，Z0.01mΩ至>2GΩG ，Y 1 nS至> 2 kS L 0.1 nH至> 2 kH C 1 fF至> 1 F D 0.00001至> 1000 Q 0.00001至> 1000 Rdc0.1mΩ至>10MΩ
準(zhǔn)確性	L / C±0.05％ R±0.02％ Q±0.05％（Q + 1 / Q） D±0.0002（1 + D2） Rdc±0.1％精度隨元件范圍測量速度和頻率而變化
輸入規(guī)格	電源230 V AC±10％或115 V AC±10％（可選）主電源頻率50/60 Hz 150VA功耗
顯示	高對比度單色LCD 320 x 240點，帶CFL背光可見區(qū)域115 x 86mm 可視角度45°
測量連接	4個前面板BNC插座 4線（開爾文）測量，屏幕處于地電位