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薄膜測厚儀ST5030-SL

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更新時間：2026-07-28 17:50:06瀏覽次數(shù)：114次

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成都市晶盛達科技有限公司

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產品簡介

尺寸500x750x650mm重量80Kg類型自動測量型號≤4"測量方法無連接的測量原理反射計特征測量迅速

詳細介紹

薄膜測厚儀ST5030-SL

尺寸	500 x 750 x 650 mm
重量	80Kg
類型	自動
測量型號	≤ 4"
測量方法	無連接的
測量原理	反射計
特征	測量迅速，操作簡單非接觸式，非破壞方式優(yōu)秀的重復性和再現(xiàn)性 2D/3D映射和造型自動機械活動控制電荷耦合器件照相機自動調焦

活動范圍	300mm x 300mm
測量范圍	100?~ 35?(Depends on Film Type)
光斑尺寸	40?/20?,4?(option)
測量速度	1~2 sec./site (fitting time)
應用領域	All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Large Size Wafer Measure
選擇	Reference sample(K-MAC or KRISS or NIST) Anti-vibration table
接物鏡轉換器	Quintuple Revolving Nosepiecs
焦點	Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
附帶照明	12v 100W Halogen Lamp