弘度科學儀器(上海)有限公司
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廠商性質其他
所 在 地上海
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更新時間:2022-10-13 13:19:30瀏覽次數(shù):209次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)FT1230深能級瞬態(tài)譜儀是分析測試半導體材料和器件的摻雜濃度、缺陷能級位、界面態(tài)(俘獲界面)等半導體性質的重要測試儀器。
FT1230深能級瞬態(tài)譜儀是分析測試半導體材料和器件的摻雜濃度、缺陷能級位、界面態(tài)(俘獲界面)等半導體性質的重要測試儀器。
Phystech FT1230 HERA-DLTS
High Energy Resolution Analysis Deep Level Transient Spectroscopy
PhysTech FT1230 HERA-DLTS
高能分辨率深能級瞬態(tài)譜
PhysTech在1990年推出了臺數(shù)字DLTS,隨著電腦技術的發(fā)展,使得在短時間內(nèi)進行復雜計算成為可能。在純指數(shù)發(fā)射過程模型的基礎上,用各種數(shù)學模型分析測量到的瞬態(tài)過程,如傅里葉轉換、拉普拉斯轉換、多指數(shù)瞬態(tài)擬合、ITS(等溫瞬態(tài)光譜)信號重疊法、溫度掃描信號重疊法(重折疊)。與其他系統(tǒng)相比,HERA-DLTS具有的能量分辨率。

特 點:
自動接觸檢查
常規(guī)測試和加強軟件
自動電容補償
三終端FET電流瞬態(tài)測量
大電容和濃度范圍
靈活性高、模塊化硬件
支持各種冷卻倉和溫度控制器
傅里葉轉換(F-DLTS),比例窗口和用戶自定義校正功能
DLTFS(深層瞬態(tài)傅里葉光譜儀)評價
操作模式:
C-DLTS
CC-DLTS
I-DLTS
DD-DLTS
Zerbst-DLTS
O-DLTS
FET-Analysis
MOS-Analysis
ITS(等溫瞬態(tài)譜)
缺陷分析
俘獲截面測量
I/V, I/V(T)
C/V, C/V(T)
TSC/TSCAP
PITS(光子誘導瞬態(tài)譜)
DLOS(特殊系統(tǒng)) Fourier 變換, Laplace 變換,指數(shù)擬合分析,ITS (等溫瞬態(tài)譜),信號重褶皺,溫度掃描信號重褶皺.


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