HKT-Master0.1BB薄膜測試儀富士FUJIWORK

HKT-Master0.1BB薄膜測試儀富士FUJIWORK

薄膜測試儀，連續(xù)厚度測試儀HKT-Master0.01AA，HKT-Master0.01BB，HKT-Master0.1BD，HKT-Master0.1BB，HKT-Master0.01AAL，HKT-Master0.01BBL，HKT-Master0.1BDL，HKT-Master0.1BBL

產(chǎn)品介紹

HKT-Master0.01AA

通過使測量頭的下降速度恒定，排除了由于測量人員不同而導(dǎo)致的測量差異的測量器。

也能舒適準(zhǔn)確地測量極薄薄膜。

測量分辨率　0.01μm

測量范圍　500μm

測量子　R30超硬球面

測量壓　0.14N

HKT-Master0.01BB

通過使測量頭的下降速度恒定，排除了由于測量人員不同而導(dǎo)致的測量差異的測量器。

也能舒適準(zhǔn)確地測量極薄薄膜。

測量分辨率 0.01μm

測量范圍 200μm

測量子 R30超硬球面

HKT-Master0.1BD

通過使測量頭的下降速度恒定，消除因測量者不同而引起的測量差異的測量器。

測量分辨率 0.1μm

測量范圍 500μm

測量子 R30超硬球面

HKT-Master0.1BB

電池使用也有可能的緊湊型類型厚度測量儀。

通過使測量頭的下降速度恒定，排除了由測量者引起的測量差異的測量儀。

測量分辨率 0.1μm

測量范圍 500μm

測量子 R30超硬球面

HKT-Master0.01AAL

如果測量物較大，建議使用這個。

這是HKT-Master0.01AA的大型臺座版本。

※除了測量臺架以外，其他產(chǎn)品的規(guī)格與HKT-Master0.01AA相同。

測量支架 石定盤類型

尺寸 約長200mm×寬150mm×高300mm

HKT-Master0.01BBL

如果測量物較大，建議使用這個。

這是HKT-Master0.01BB的大型舞臺版。

※除了測量支架以外，其他產(chǎn)品的規(guī)格與HKT-Master0.01BB相同。

測量支架 石定盤類型

尺寸 約長200mm×寬150mm×高300mm

HKT-Master0.1BDL

如果測量物體較大，建議使用這個。

HKT-Master0.1BD的大型舞臺版。

※除了測量支架以外的產(chǎn)品規(guī)格與HKT-Master0.1BD相同。

測量支架 石定盤類型

尺寸 約長200mm×寬150mm×高300mm

HKT-Master0.1BBL

如果測量物較大，建議使用這個。

這是HKT-Master0.1BB的大型舞臺版。

※除了測量支架，其他產(chǎn)品的規(guī)格與HKT-Master0.1BB相同。

測量支架 石定盤類型

尺寸 約長200mm×寬150mm×高300mm