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閱讀：522發(fā)布時(shí)間：2022-12-5
這個(gè)是不一定需要的，盡量將每次校準(zhǔn)的state存 入VNA，名字為校準(zhǔn)狀態(tài)，例如頻率范圍，輸入激勵(lì)功率等。如果有新的測(cè)試項(xiàng)目，但是它的測(cè)試條件和已有狀態(tài)相似，且load state后，檢查校準(zhǔn)狀態(tài)良好，就可用使用以前的校準(zhǔn)狀態(tài)，而不需要重新校準(zhǔn)。將校準(zhǔn)state保存并調(diào)用的好處在于：Calibration Kit也是有使用壽命的，多次的校準(zhǔn)操作會(huì)使校準(zhǔn)件多次和校準(zhǔn)電纜接觸，可能污染校準(zhǔn)件，使得校準(zhǔn)件特性發(fā)生改變，影響下一次校準(zhǔn)。盡量養(yǎng)成如下習(xí)慣：將的port不用的時(shí)候加上防塵套。盡量不使測(cè)試電纜有較大的物理彎曲等。
那我們是不是這樣我們就不用校準(zhǔn)了呢？需要注意的是VNA的校準(zhǔn)是精確測(cè)量前必要的準(zhǔn)備??！
以兩端口DUT測(cè)量為例， 兩端口誤差模型，分為正向和反向，正向具有6個(gè)誤差項(xiàng)，反向也有6個(gè)誤差項(xiàng)，總共有12個(gè)誤差項(xiàng)需要求解。
當(dāng)然一般提供的二端口矢量校準(zhǔn)方法為SOLT，LRM，LRRM，TRL等等。不同的校準(zhǔn)方法就是對(duì)應(yīng)不同的誤差模型方程，校準(zhǔn)件的本質(zhì)是通過(guò)校準(zhǔn)件本身已知的測(cè)試結(jié)果，建立誤差模型方程。
實(shí)際校準(zhǔn)的方法：
盡管一般VNA的User Guider上都有儀器校準(zhǔn)的方法，但是還有很多細(xì)節(jié)需要注意的：
1、設(shè)定測(cè)試參數(shù)
選擇測(cè)試頻率范圍：一般的頻率范圍要稍微大于測(cè)試指標(biāo)規(guī)定的范圍，選擇VNA Port激勵(lì)功率，對(duì)于無(wú)源器件，可以選擇稍微大的激勵(lì)功率，例如0dBm，但是對(duì)于測(cè)試Amplifier等小信號(hào)器件，一般激勵(lì)信號(hào)要小于器件的 1dB壓縮點(diǎn)，對(duì)于Power Amplifier等大功率器件，需要減小VNA的輸入信號(hào)功率，同時(shí)要在PA的輸出和VNA的輸入間加入衰減器。但是過(guò)分減小VNA的輸入信號(hào)功率，可能會(huì)使得S11和S22測(cè)量誤差增大。如果對(duì)于多端口VNA，還需要選擇測(cè)試port。
2、選擇校準(zhǔn)件，選擇校準(zhǔn)方法，通過(guò)儀器校準(zhǔn)的Guide完成校準(zhǔn)
每個(gè)公司都有不同的規(guī)格的校準(zhǔn)件，例如N型的，SMA型的，這個(gè)在校準(zhǔn)之前一定要選擇好，VNA中會(huì)定義校準(zhǔn)件，將校準(zhǔn)件的特性預(yù)先存入VNA，以便校準(zhǔn)時(shí)求解誤差方程。因此，如果校準(zhǔn)件選擇不當(dāng)，也就沒有校準(zhǔn)的意義了。
3、校準(zhǔn)結(jié)果檢查
這一步不是必須的，但個(gè)人覺得作為一個(gè)優(yōu)秀的射頻工程師，這一步是至關(guān)重要的。
開路校準(zhǔn)特性的檢查：校準(zhǔn)完成后，將開路件取下，顯示S11和S22的Smith Chart，良好的校準(zhǔn)使得測(cè)試顯示曲線在整個(gè)測(cè)量頻率范圍內(nèi)都在Smith Chart的開路點(diǎn)。負(fù)載校準(zhǔn)特性的檢查：校準(zhǔn)完成后，將測(cè)試端口連接負(fù)載件，測(cè)試S11和S22的Smith Chart，良好的校準(zhǔn)使得測(cè)試曲線在整個(gè)測(cè)量頻率范圍內(nèi)都在Smith Chart的中心點(diǎn)。
直通檢查：校準(zhǔn)完成后，將兩端口連接Thru件，測(cè)試S12或者S21的dB曲線，良好的校準(zhǔn)使得測(cè)試曲線在整個(gè)頻率范圍內(nèi)平坦，且都在0dB。
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