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閱讀：618發(fā)布時(shí)間：2022-12-7
最近跟業(yè)界一位同仁討論了矢量的誤差模型及校準(zhǔn)過程，簡單整理了一下，分享給大家，歡迎一起討論。
的誤差模型確實(shí)不太好理解，一般只有研發(fā)矢網(wǎng)或者專攻測試技術(shù)的人員才會深入探究。使用矢網(wǎng)測試之前，都是需要作系統(tǒng)誤差校準(zhǔn)的，目的就是將測試裝置本身引入的誤差項(xiàng)修正掉，得到DUT真實(shí)的S參數(shù)。
系統(tǒng)誤差校準(zhǔn)可分為單端口和雙端口系統(tǒng)誤差校準(zhǔn)，前者主要用于測試單端口器件的反射系數(shù)及其衍生參數(shù)，后者主要測試雙端口器件的全S參數(shù)及其衍生參數(shù)。
單端口系統(tǒng)誤差校準(zhǔn)包括OSM(open/short/match，有時(shí)稱為OSL——open/short/load)和歸一化校準(zhǔn)。OSM校準(zhǔn)屬于全單端口校準(zhǔn)，可以修正全面的單端口測試涉及的誤差項(xiàng)，所以測試單端口器件時(shí)精度！反射歸一化校準(zhǔn)，速度很快，但是只使用Open或者Short單個(gè)校準(zhǔn)件，只能求解反射跟蹤一個(gè)誤差項(xiàng)，所以精度有限。
反射測試的基本過程：激勵(lì)源Source提供信號a1，經(jīng)耦合器后大部分經(jīng)矢網(wǎng)端口輸出至DUT；經(jīng)DUT反射的信號經(jīng)過耦合器的耦合路徑到達(dá)測量接收機(jī)Meas. Receiver. 由于矢網(wǎng)端口也存在反射，假設(shè)反射系數(shù)為S，那么在端口與DUT端口之間會存在多次反射，多次反射的量同樣也會經(jīng)過耦合路徑進(jìn)入Meas. Receiver. 此外，由于耦合器并不是理想的，所以其隔離度也是有限的，這導(dǎo)致激勵(lì)信號a1的一部分會經(jīng)過耦合器的隔離通道直接饋入Meas.Receiver。
也就是說，Meas. Receiver接收到的信號b3實(shí)際包含三部分：DUT直接反射的信號，測試參考面處的多次反射信號，以及經(jīng)耦合器隔離通道直接泄露的信號。
在列舉公式之前，再簡單介紹一下圖中的標(biāo)識參數(shù)：耦合器本身有4個(gè)端口，但是考慮到該模型中只涉及耦合器的部分參數(shù)，所以此處將其等效為3端口器件，端口分別為port1、port2、和port3. S21是指耦合器的直通傳輸系數(shù)，S31是指泄露通道的傳輸系數(shù)，S32是指耦合通道的傳輸系數(shù)。
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