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更新時(shí)間:2026-08-04 08:53:23瀏覽次數(shù):233次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 儀表網(wǎng)芯片級電磁兼容測試系統(tǒng)我公司能提供滿足以下標(biāo)準(zhǔn)要求的芯片級電磁兼容測試系統(tǒng)的全套解決方案,歡迎
我公司能提供滿足以下標(biāo)準(zhǔn)要求的芯片級電磁兼容測試系統(tǒng)的全套解決方案,歡迎。
一、IEC 61967系列標(biāo)準(zhǔn)為電磁發(fā)射測量標(biāo)準(zhǔn),包括如下9項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn):
IEC 61967-1: 通用條件和定義
IEC 61967-1-1:通用條件和定義-近場掃描數(shù)據(jù)交換格式
IEC 61967-2:輻射發(fā)射測量-TEM小室和寬帶TEM小室法
IEC 61967-3:輻射發(fā)射測量-表面掃描法
IEC 61967-4: 傳導(dǎo)發(fā)射測量-1Ω/150Ω直接耦合法
IEC 61967-4-1:傳導(dǎo)發(fā)射測量-1Ω/150Ω直接耦合法和應(yīng)用指南
IEC 61967-5:傳導(dǎo)發(fā)射測量-法拉第籠法WFC
IEC 61967-6:傳導(dǎo)發(fā)射測量-磁場探頭法
IEC 61967-8:輻射發(fā)射測量-帶狀線法
二、IEC 62132系列標(biāo)準(zhǔn)為電磁抗擾度測量標(biāo)準(zhǔn),包括如下7項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn):
IEC 62132-1: 通用條件和定義
IEC 62132-2: 輻射抗擾測量-TEM室和GTEM室法
IEC 62132-3: 大電流注入法BCI
IEC 62132-4: 射頻功率直接注入法
IEC 62132-5: 法拉第籠法WFC
IEC 62132-8:輻射抗擾測量-帶狀線法
IEC 62132-9:輻射抗擾測量-表面掃描法
三、IEC 62215系列標(biāo)準(zhǔn)為脈沖抗擾度測量標(biāo)準(zhǔn),包括如下2項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn):
IEC 62215-2:同步瞬態(tài)注入法
IEC 62215-3:非同步瞬態(tài)注入法
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