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深圳市嘉士達精密儀器有限公司

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SE500橢偏儀薄膜測量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm

詳細摘要： SE500橢偏儀薄膜測量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-17 在線留言
SE300橢偏儀400nm到1000nm測量薄膜材料厚度

詳細摘要： SE300橢偏儀400nm到1000nm測量薄膜材料厚度產(chǎn)品簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、N...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-15 在線留言
SE200BA-M300橢偏儀測量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設備

詳細摘要： SE200BA-M300橢偏儀測量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設備產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
FPD-IG-175可視化及測量光譜激光束的時間特性光電探測器

詳細摘要： FPD-IG-175可視化及測量光譜激光束的時間特性光電探測器主要優(yōu)點FPD-IG-175是一種快速光學探頭，用于可視化及測量光譜范圍為900nm至1700nm...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-09-03 在線留言
HSA-X-S-2G-IN超快貳兆赫茲光電探測器

詳細摘要： HSA-X-S-2G-IN超快貳兆赫茲光電探測器產(chǎn)品簡介HSA-X-S-2G-IN超快貳兆赫茲光電探測器，德國FEMTO品牌，探測器為0.1mmInGaAs-P...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-09-01 在線留言
FPD-UV-3000紫外增強硅光電探測器193-1100nm

詳細摘要： FPD-UV-3000紫外增強硅光電探測器193-1100nm產(chǎn)品簡介FPD-UV-3000是一種快速光學探頭，用于可視化及測量光譜范圍為193nm至1100n...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-07-03 在線留言
HSA-X-S-1G4-SI帶寬1.4G光電探測器結合GHz放大器技術

詳細摘要：帶寬1.4G光電探測器結合GHz放大器技術產(chǎn)品簡介10kHz高達2GHz、高速、固定增益通過將的光電二管與久經(jīng)考驗的FEMTOGHz放大器技術相結合，我們設計了...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-12-07 在線留言